Model 3710 太阳能芯片检测系统 Model 3710

主　要　特　色：
适用于 5 吋及 6 吋太阳能芯片 
高产能及 0.2% 以下之低破片率 
2D 几何计算检测 
芯片表面瑕疵检测 
微裂隙检测 
锯痕检测 
Resistively/Thickness 测试 
寿命测试 
简易的疑难解答程序 
进料 : 堆栈盒 / 卡式盒 
分类 : 堆栈盒 / 卡式盒 

主　要　特　色：
适用于 5 吋及 6 吋太阳能芯片
高产能及 0.2% 以下之低破片率
2D 几何计算检测
芯片表面瑕疵检测
微裂隙检测
锯痕检测
Resistively/Thickness 测试
寿命测试
简易的疑难解答程序
进料 : 堆栈盒 / 卡式盒
分类 : 堆栈盒 / 卡式盒

Chroma 3710整合了2D 几何计算、表面瑕疵、微裂隙检查、锯痕检查等光学检测功能，并依客户需求制定Thickness检查及Lifetime测试，是一套可针对使用者全方位客制化的太阳能晶片检测系统。具有高产能及低破片率的优点，非常适合用于进料端，晶片可依使用者定义自动分类到堆叠盒或卡式盒内，独特的自动转换技术可以大量节省人工转换所需的系统待转时间，并应用高科技化的技术，确保太阳能晶片输送系统中重要关键之一的低破片率