薄膜测厚仪F20 F20

薄膜测厚仪F20是我们的通用台式仪器。它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样，F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。

产品简介：
         F20是我们的通用台式仪器。它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样，F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。
不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们*为普遍的产品。较短的波长，（例如F20-UV），一般用于测量较薄的薄膜，而较长的波长（例如，F20-NIR），则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。 

产品特性：                                                                            产品应用：   
        操作简单、使用方便                                                               半导体行业:光阻、氧化物、氮化物
        测量快速、准确                                                                       LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides
        体积小、重量轻                                                                       光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
        价格便宜