薄膜厚度测量仪 F10-HC
产品简介
是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm,薄膜厚度的测量范围是:0.1~50um,精度好于0.4%。
产品详细信息
产品简介:
是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm,薄膜厚度的测量范围是:0.1~50um,精度好于0.4%。
应用领域:
硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜(AR-Coating)
是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm,薄膜厚度的测量范围是:0.1~50um,精度好于0.4%。
应用领域:
硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜(AR-Coating)