EDX2800能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪 EDX2800
产品简介
EDX2800能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度
产品详细信息
EDX2800能量色散X荧光光谱仪/ROHS检测仪主要技术指标
※. 测量元素:从硫至铀等 75 种元素
※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
※. 检测限*高达 1ppm
※. 测量时间: 60-300s
※. 能量分辨率为: 160±5eV
※. 高压:5-50kV
※. 管流:50-1000uA
※. 温度适应范围: 15-30℃
※. 电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源)
※. 重量:60kg
※. 自动选择滤光片
※. 多种准直器自动自由切换
※. 电制冷硅针半导体探测器
※. 加强的金属元素感度分析器
※. 三重**保护模式
※. 相互独立的基体效应校正模型
※. 多变量非线性回归程序
※. 任意多个可选择的分析识别模型
※. 一次可同时分析 24 个元素析
※. 元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※. RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)
※. 检测限*高达 1ppm
※. 测量时间: 60-300s
※. 能量分辨率为: 160±5eV
※. 高压:5-50kV
※. 管流:50-1000uA
※. 温度适应范围: 15-30℃
※. 电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源)
※. 重量:60kg
※. 自动选择滤光片
※. 多种准直器自动自由切换
※. 电制冷硅针半导体探测器
※. 加强的金属元素感度分析器
※. 三重**保护模式
※. 相互独立的基体效应校正模型
※. 多变量非线性回归程序
※. 任意多个可选择的分析识别模型
※. 一次可同时分析 24 个元素析
仪器基本配置
※.信噪比增强器
※.自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品
※.独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品
※.测量 RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用
※.电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷
※.特别开发的测量软件,操作界面十分友好
※.内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品
※.精准的移动平台,更**方便地调节样品位置
※.高贵时尚的外型,带给您全新的视觉冲击
※.样品腔尺寸:605mm*395*70mm
※.自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品
※.独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品
※.测量 RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用
※.电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷
※.特别开发的测量软件,操作界面十分友好
※.内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品
※.精准的移动平台,更**方便地调节样品位置
※.高贵时尚的外型,带给您全新的视觉冲击
※.样品腔尺寸:605mm*395*70mm