超小型多层测厚仪 CMX

超小型多层测厚仪际能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

超小型多层测厚仪产品特性和技术指标

◎      多种测量方式：

模式一：仅测量基体厚度

模式二：仅测量涂层厚度

模式三：同时测量基体和涂层的厚度 

◎      多种显示模式
1. 数字式显示
2. B扫描显示
3. A扫描显示（仅CMX DL+）

◎      增益可调节：超低、低、中、高、超高

◎      增益值*高可到110dB

◎      自动增益控制（AGC）

◎      时间增益校正（TCG）

◎      超小型多层测厚仪探头自动识别，自动调零和温度补偿

◎      数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

◎      可存储64个用户参数设置

◎     超小型多层测厚仪 高速扫查（50次/秒）

◎      高达140HZ的脉冲重复频率

◎      B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

◎      A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）

◎     差值测量模式

◎     超小型多层测厚仪高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值

◎     上/下限声光报警功能

◎     *大值、*小值显示

◎     超小型多层测厚仪可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告 

性能参数

键    盘：12键按键

测量范围：界面波-底波(P-E)方式：  0.63－508mm
               带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
               多层测量(PECT)方式：  0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）    

               穿透涂层测量(E-E)模式：  2.54­—102mm（因涂层的不同会有所变化）

               仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）

显示精度：0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）

声速范围：1250－13995m/s

工作温度：-10℃—60℃

探头类型：1—10MHZ双晶探头

探头接口：LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头

通讯接口：RS232接口（配备USB转RS232接头）

电池工作时间：150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）

省电功能：5分钟无任何操作后能自动关机

显 示 屏：62╳45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）

外观尺寸：63.5X165X31.5MM

重量：382克

外壳：合金外壳

主机质保两年