日本尼康共聚焦显微镜 C2+/C2si+共聚焦显微镜系统品牌

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【产品名称】：C2+/C2si+共聚焦显微镜系统

【产品型号】：C2+/C2si+

日本尼康共聚焦显微镜 C2+/C2si+共聚焦显微镜系统品牌产品简介

实验室必备显微设备

2+共聚焦显微镜系统是新研发的Nikon 共聚焦仪器的一部分，新开发的产品为必要的实验室显微镜工具。由于产品有令人难以置信的稳定性，操作简易，且有优越的光学性能和高速图像采集（可达100  帧/秒*）能力。 C2+可作为出色显微镜工具（新购置），或将已有的尼康显微镜升级为C2+共聚焦系统。

配置Ni-E正置显微镜

日本尼康共聚焦显微镜 C2+/C2si+共聚焦显微镜系统品牌产品性能和特点：

1、图像质量

Nikon****的光学组件和久经考验的高效光学设计可在*远的工作距离下提供*明亮与*清晰的图像。

•高效扫描头和检测器

具备方便小巧的扫描头， 使C2+可用于各类Nikon 显微镜。C2+使用高精度振镜与**圆形光学针孔，分离式检测有效隔离热原同噪音，可获取低噪音，高对比度与高品质的共聚焦图像。新开发的扫描驱动系统和Nikon独有的图像校正技术，允许8帧/秒（512 x 512像素）和100帧/秒（512 x 32 像素）的高速成像。

•高性能光学镜头  

CFI复消色差λS系列

此系列高数值孔径（NA）物镜为共聚焦拍摄的理想之选，其对宽波长范围自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物镜色差校正可达红外范围。使用Nikon独有的纳米晶体涂层技术可有效增加光线透过率。

CFI复消色差TIRF 系列

此系列物镜的NA值为1.49 （使用标准的盖玻片和浸油），在Nikon物镜中具备*高的分辨率。配备温度校正环可在23°C～37°C温度范围对图像质量进行校正。

•高清晰度微分干涉（DIC）图像

C2+能同时获得三个通道的荧光，或同时实现三通道荧光与透射微分干涉（DIC）的观察。高品质DIC图像和荧光图像可以叠加,以便进行形态分析。

2、高功能            

高效图像处理软件NIS-Elements提供各种图像处理和分析功能。并可从图像中提取数据。此外，NIS-Element 可实现Nikon 显微镜和其他第三方外设，如EMCCD相机和滤光轮的直接操作，使其可适用于各类实验应用。

•多种拍摄模式  

单一软件包即可提供各种成像方法，如共聚焦、宽视野、TIRF 、光活化，并同时具有图像的处理、分析和呈现的功能。用户可在统一的界面与工作流程中轻松掌握控制不同的成像系统。

3、灵活性          

C2+可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜联合使用，且可以与各种高质量研究试验系统联合使用。可用NIS-Element 软件控制所有的尼康显微镜系统。

• TIRF/光活化-C2+多模式成像系统

可整合选配的TIRF 激光照明模块和与光活化模块，实现高S/N比单分子成像，并捕捉光活化与光转化中荧光蛋白荧光特征变化图像。

• AZ-C2+宏观共聚焦系统

在高清晰度的大视野下，超过1 cm的大样本都可获取高S/N比的图像。AZ-C2+可获取完整样品的图像，如胚胎，单次拍照，高达2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+获得32通道光谱数据。可将低倍率与高倍率物镜，光学变焦和共焦扫描变焦功能相结合，从宏观到微观连续成像。

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