熔点仪 XPR-300C XPR-300C

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产品型号: XPR-300C
 牌:其它品牌
公司名称:宁波璟瑞仪器仪表有限公司
  地:浙江宁波
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产品简介

一、仪器的主要用途和特点     XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业*常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。 
  本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共

产品详细信息

二、仪器的主要技术指标
 1.显微镜技术参数:

名称

规格

总放大倍数:

40X---630X

无应力消色差物镜

4X/0.1

10X/0.25

25X/0.40

40X/0.65 弹簧

63X/0.85 弹簧

目镜

10X 十字目镜

10X 分划目镜

试片

石膏 1λ 试片

云母 1/4λ 试片

石英楔子试片

测微尺

0.01mm

滤色片

蓝色

带座目镜网络尺

 

移动尺

移动范围 30mm×40mm

镜筒

三目观察


2.熔点仪技术参数:

热台组成

性能

显微精密控温仪


   在 20倍物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数

 

显微加热平台


   可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1

· 起始温度室温
·工作区加热使用面积至少 1X1厘米
· 工作区温度梯度不超过 ± 0.1
· 透光区域 2mm以上,可调
· 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
· 热台可以随载物台移动

在加热状态下*高可使用 20倍物镜

注意: 熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离
太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜)
三、系统的扩展性
   XPR-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机成像技术和精密的温控技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像,并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。
四、系统组成 
1、偏光显微镜XP-300          

2、电脑适配镜

3、彩色摄像器机

4、A/D转换器(图形采集设备)

5、热台

6、计算机(用户自购)
 
五、选购部分
1. 偏光分析软件
 
2.200万像素彩色成像器,300万像素彩色成像器,400万像素彩色成像器

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