偏光熔点仪XPR-300E 上海绘统光学厂偏光熔点仪XPR-300E 上海绘统光学厂

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产品型号：偏光熔点仪XPR-300E 上海绘统光学厂

品牌：绘统光学

公司名称：上海绘统光学仪器有限公司

所在地：上海浦东

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产品简介

偏光熔点仪XPR-300E 上海绘统光学厂XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 专业*常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、

产品详细信息

偏光熔点仪XPR-300E 上海绘统光学厂

一、仪器的用途：

XPR-300型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业*常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，该仪器采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定，对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据，设有“上、下”限自动报警装置，并可随时检查设定的温度数据，是新一代熔点测温，控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

一、仪器的用途：

二、技术参数

1.目镜

类别	放大倍数	视场(mm)
平场目镜	10X	φ18
分划目镜	10X	φ18

2.物镜

类别	放大倍数	数值孔径(NA)	盖玻片厚度(mm)
无应力平场消色差物镜	4X	0.10	-
	10X	0.25	-
	40X	0.65	0.17
	60X	0.85	0.17

3.光学放大倍数：40X -- 600X

4.系统放大倍数：40X-2600X
5.旋转载物台：可拆卸移动机构移动范围：30mm×40mm
6.调焦机构：同轴共轨式粗微动调焦
7.调节范围 26mm，微动格值 0.002 mm，带锁紧和限位装置
8.透射照明：起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数光源6V/20W卤素灯，亮度可调阿贝聚光镜 N.A=1.25 可上下升降
9.中间接筒：内置检偏器，可自由切换正常观察与偏光观察，90°旋转，带刻度，游标格值 12′补偿器：石膏λ片，云母λ/4片，石英契子
10.防霉功能：特有的防霉系统

三、系统简介

偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机图像处理技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

四、热台：

1.显微精密控温仪
在 20X 物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数

  2.显微加热平台
    可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
    起始温度室温
    工作区加热使用面积至少1X1cm
    工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC
    透光区域 2mm以上，可调
    显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
    热台可以随载物台移动
    熔点测定温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的 20X、40X 物镜