韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪 XRF 2000

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产品价格： ¥175000.00

产品型号：XRF 2000

品牌：MICRO PIONEER

公司名称：仪高南仪器(深圳)有限公司1

所在地：广东深圳

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产品简介

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

产品详细信息

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下三种：
1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。
行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 :
  非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
  可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。
  全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
  标準配备: 溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
  雷射对焦，配**色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

光学2 0X 影像放大功能，更能**对位。