镀层测厚仪 X-Strata980

X-Strata980镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。

X-Strata980元素分析仪|X荧光镀层测厚仪为牛津推出的用来测试元素的含量或镀层的厚度的电子测厚仪
    产品简介：
     X-Strata980镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可**到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。 
    X-Strata980镀层测厚仪应用:
    --RoHS/WEEE
    --有害元素痕量分析
    --焊料合金成分分析和镀层厚度测量
    --电子产品中金和钯镀层的厚度测量
    --五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
    --贵金属合金分析和牌号鉴定
    X-Strata980镀层测厚仪产品特点:
    --100瓦X射线管
    --25mm2PIN 探测器
    --多准直器配置
    -扫描分析及元素分布成像功能
    --灵活运用多种分析模型
    --清晰显示样品合格/不合格
    --超大样品舱
    --同时分析元素含量和镀层厚度
    X-Strata980镀层测厚仪技术参数:
    --元素范围:S(16) to U(92)
    --可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份
    --X射线管功率:100W (50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管
    --探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器
    --滤波器/准直器:*多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)
    --数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
    --电脑/显示器/系统软件
    Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
     15”LCD, 1024 x 768
     MicrosoftTM XP SP2
    --摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
    --电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz
    --工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
    --XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
    --*大样品尺寸
     305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为 50mm (2”)
     305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)
    --舱室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
    --外型尺寸
     高765mm (30.1”)
    宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
     深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended