SpecEl 椭偏仪 SpecEl-2000-VIS

产品价格: < 面议
产品型号:SpecEl-2000-VIS
 牌:其它品牌
公司名称:OEWindow
  地:北京海淀
浏览次数:
更多
立即询价 在线咨询

产品简介

SpecEl 椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。

产品详细信息


SpecEl 椭偏仪

SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。

集成的**测量系统
SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,并且折射率测量可达0.005%。
SpecEl可通过电话问价。

SpecEl
软件及Recipe配置文件
通过SpecEI软件,你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析,所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后,你可以选择不同的recipe来执行你的实验。

SpecEI软件截图显示的PsiDelta值可以用来计算厚度,折射率及吸光率。

配置说明
波长范围:
380-780 nm (标准) 450-900 nm (可选)
光学分辨率:
4.0 nm FWHM
测量精度:
厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%
入射角:
70°
膜厚:
单透明膜1-5000 nm
光点尺寸:
2 mm x 4 mm (标准) 200 µm x 400 µm (可选)
采样时间:
3-15s (*小)
动态记录:
3 seconds
机械公差 (height):
+/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0°
膜层数:
至多32
参考:
不用
 

在线询价

您好,欢迎询价!我们将会尽快与您联系,谢谢!
  • *产品名称:
  • 采购数量:
  • 询价有效期:
  • *详细说明:
  •   100
  • *联系人:
  • *联系电话:
  • 附件: 附件支持RAR,JPG,PNG格式,大小在2M范围
验证码: 点击换一张
 
   温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。

   免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,欢迎举报