SpecEl 椭偏仪 SpecEl-2000-VIS
产品简介
SpecEl 椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。
产品详细信息
SpecEl 椭偏仪
|
|
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。
|
集成的**测量系统
SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，并且折射率测量可达0.005%。
SpecEl可通过电话问价。
SpecEl软件及Recipe配置文件
通过SpecEI软件，你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析，所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后，你可以选择不同的recipe来执行你的实验。
|
SpecEI软件截图显示的Psi及Delta值可以用来计算厚度，折射率及吸光率。
|
配置说明
|
波长范围:
|
380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选)
|
|
光学分辨率:
|
4.0 nm FWHM
|
|
测量精度:
|
厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%
|
|
入射角:
|
70°
|
|
膜厚:
|
单透明膜1-5000 nm
|
|
光点尺寸:
|
2 mm x 4 mm (标准) 或 200 µm x 400 µm (可选)
|
|
采样时间:
|
3-15s (*小)
|
|
动态记录:
|
3 seconds
|
|
机械公差 (height):
|
+/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0°
|
|
膜层数:
|
至多32层
|
|
参考:
|
不用
|
关于我们|
易展动态|
易展荣誉|
易展服务|
易家文化|
英才集结号|
社会责任|
联系我们
备案号：粤ICP备11010883号|
公安机关备案号：44040202000312|
版权问题及信息删除： 0756-2183610
QQ：
Copyright?2004-2017 珠海市金信桥网络科技有限公司 版权所有
