瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列 x系列
产品简介
瑞典XCounter 双能探测器 光子计数 直接转换 能量分辨 •XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料 •直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率 •可获得更小细节的清晰图像 •动态范围大,这对于获取整幅图像非常重要 •光子计数,具有更高的灵敏度,可在非常低的剂量下工作 •采用双能曝光,具有区分材料的能力 双能 • XCounter具有能量分辨能力,可以分辨出不同的材料 • 一次X射线获取,可记录两种不同能量的X射线吸收剂量 • 利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像 中把它们区分出来 • 使得XCounter在医疗和工业领域独具特色 • 独特的卖点 独特的传感器 瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列
产品详细信息
瑞典XCounter-x射线双能探测器
产品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式,扫描速度*高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE X系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制,整个扫描过程是透明可见的。瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列
集成
XC-FLITE X系列,通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列
应用瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测(NDT)
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*自扫描设计,透明可见
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,**的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*扫描速度*高90mm/s
*兼容Windows操作系统,从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数单
基本参数
物理参数 |
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尺寸 (L×W×H) |
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XC-FLITE
X1:32.9×22.0×5.5cm |
温度控制 |
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内部的珀尔帖效应温度控制 |
环境温度 |
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+10 - +40℃ |
储藏温度 |
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-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度 |
射线窗 |
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碳纤维, 厚500μm |
射线屏蔽 |
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根据应用 |
传感器 |
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传感器数量 |
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X1:1 X2:2 X3:3 |
传感器类型 |
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双能光子计数 CdTe-CMOS |
传感器厚度 |
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0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面积 |
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X1:154.7×12.8mm(1536×128像素) |
像素 |
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100μm |
像素填充率 |
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100% |
性能 |
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*大扫描速度 |
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X1:90 mm/s X2 & X3:255 mm/s |
帧率 |
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*高1000 fps (也可选择时间延迟总和模式) |
动态范围 |
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12 bits |
图像面元 |
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1×1,2×2, 4×4 |
成像时间 |
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100μs-5s |
DQE(0) |
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85%@RQA5 spectra |
MTF |
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>80% @ 2lp/mm |
管KV范围 |
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15-250kVp |
内部测试图样 |
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Pseudo-random debug pattern |
外部触发输出 |
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3.3V TTL |
输入 |
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5V |
滞后 |
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0% |
拖影 |
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<0.1% X射线开启后1分钟,(12μGy) |
分辨率和DQE曲线 (反符合开CC on和闭CC off)
瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列瑞典XCounter-x射线双能探测器x系列