美国GE超声波探头 IAP-..25.3.2
产品简介
美国GE超声波探头IAP-..25.3.2: •单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 美国GE超声波探头IAP-..25.3.2•通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描(非接触测试) •完全不漏水的版本设计,或者带有固定的连接电缆,或者带有水密封的连接插座
产品详细信息
美国GE超声波探头IAP-..25.3.2
特性:非常高的分辨率,聚焦声束宽度非常小
A-..和IAP-..:用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测,有非常高的分辨率,这些缺陷在零部件表面下分布展开:例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地,它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试,以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。
美国GE超声波探头IAP-..25.3.2
压电高聚物高频直探头 |
特性:非常高的分辨率,聚焦声束宽度非常小 |
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IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2 |
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IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3 |
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