美国泛美超声波延迟探头 C541-SM
产品简介
美国泛美超声波延迟探头C541-SM 三种材料制成的Accupath楔块在提高了信噪比性能的同时,还表现出极好的防磨特性。美国泛美超声波延迟探头C541-SM可提供在铝制材料中获得标准折射角度的楔块及整合组件设计。
产品详细信息
美国泛美超声波延迟探头C541-SM
袖珍角度声束探头和楔块主要用于检测焊缝的完整性。由于这种探头和楔块组合件的设计特点,这种组合件很容易进行前后扫查,并得到较短的接近距离。
应用
• 缺陷探测与定量。
• 要了解衍射时差探头,请参阅第35页。
• 检测管道、管件、锻件、铸件,机加工部件和结构部件上的焊缝缺陷或裂缝。
• 旋入式设计,303不锈钢外壳。
• 不同频率的探头颜色不同。
• 兼容于短接近、Accupath、高温和表面波楔块。
袖珍角度声束探头和楔块主要用于检测焊缝的完整性。由于这种探头和楔块组合件的设计特点,这种组合件很容易进行前后扫查,并得到较短的接近距离。
美国泛美超声波延迟探头C541-SM
袖珍旋入式toFd探头:
频率
标称晶片尺寸
探头工件编号
外壳
类型
外壳螺距
MHz
英寸
毫米
2.25
0.25
6
C542-SM
ST1
3/8 - 32
0.375
9.5
C566-SM
ST2
11/16 - 24
0.5
12
C540-SM
ST2
11/16 - 24
5
0.125
3
C567-SM
ST1
3/8 - 32
0.25
6
C543-SM
ST1
3/8 - 32
0.375
9.5
C568-SM
ST2
11/16 - 24
0.5
12
C541-SM
ST2
11/16 - 24
10
0.125
3
C563-SM
ST1
3/8 - 32
0.25
6
C544-SM
ST1
3/8 - 32
15
0.125
3
V564-SM*
ST1
3/8 - 32
*活动晶片为标准压电陶瓷(没有复合材料的活动晶片)。
美国泛美超声波延迟探头C541-SM
袖珍旋入式toFd楔块
ST1型楔块
ST2型楔块
折射纵波角度
楔块选项
ST1
ST2
45°
标准
ST1
ST2
45°
灌溉*
ST1
ST2
60°
标准
ST1
ST2
60°
灌溉*
ST1
ST2
70°
标准
ST1
ST2
70°
灌溉*
*还包含碳化物防磨销钉。