美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块 TB7541-X

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产品型号:TB7541-X
 牌:美国泛美
公司名称:深圳市泰立仪器仪表有限公司
  地:广东深圳
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产品简介

美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块TB7541-X,每个应用中都需要使用校准试块和/或参考试块。我们备有用于角度声束校准和厚度校准的普通材料标准试块。美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块。

产品详细信息

美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块TB7541-X

每个应用中都需要使用校准试块/或参考试块。我们备有用于角度声束校准和厚度校准的普通材料标准试块。

  1018钢、304不锈钢、7075-T6铝制的试块一般有现货(其它材料的试块需要特殊的报价及交货要求)。

  诚愿联系我们,了解有关未列材料、未列试块或自行定制试块的更详细信息。


美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块TB7541-X

所有试块的尺寸都使用源于美国国家标准及技术研究所(NIST)的测量仪器进行核查。*经常求购的校准试块列于下表中。

类型

工件编号

说明

硬木箱

ASTM E164校准

IIW试块

TB7541-X

符合AASHTOAWS1型试块的要求。校准距离和灵敏度设置。

测量角度声束探头的折射角度和声束出射点。美国常用单位(英寸)。

F129

TB1136-X

符合AASHTOAWS1型试块的要求。校准距离和灵敏度设置。

测量角度声束探头的折射角度和声束出射点。美国常用单位(英寸)。

带有有机玻璃塞。

F129

TB1054-X

公制单位。

F129

TB1137-X

公制单位。带有有机玻璃塞。

F129

美国空军IIW-2

校准试块

TB5939-X

美国空军NDI手册T.O.33B -1-1中规定的IIW型试块。

这些试块包含用于距离校准的半径为2英寸和4英寸的开口,

带有3号、5号和8号横通孔,以及2英寸处的距离校准标记。

F129

RC AWS试块

TB7543-X

根据AWSAASHTO的要求,确定角度声束探头的分辨率能力。

F157

SC AWS试块

TB7545-X

根据AWSAASHTO的要求,进行灵敏度和折射角度的校准。

F158

DC AWS试块

TB7547-X

根据AWSAASHTO的要求,为角度声束探头进行距离和声束步进的校准。

F159

DSC AWS试块

TB7549-X

根据AWSAASHTO的要求,为角度声束探头进行距离、灵敏度、

折射角度及声束步进的校准。

F160

DS AWS试块

TB7551-X

根据AWSAASHTO的要求,用于校准横向线性和dB精准度的试块。

F161

30FBH分辨率

参考试块

TB7160-X

评价UT设备的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的灵敏度。

0.050英寸到1.250英寸之间的10个金属行程距离处

3号、5号和8ASTM平底孔。

包含

NAVSHIPS试块

TB7567-X

带有63号横通孔。用于根据NAVSHIPS 0900-006 -3010标准

进行距离波幅校准。

F162

ASTM E164 MAB

试块

TB7150-X

袖珍角度声束(ROMPAS)试块。用于距离、声束步进、

折射角度及灵敏度的校准。厚度为1英寸。

F197

ISO 7963

钢制

TB1065-X

袖珍角度声束试块。用于距离、声束步进、折射角度和灵敏度的校准。

厚度为25毫米。

F197


美国泛美(奥林巴斯)探头延迟块TB7541-X

将工件编号中的“X”替换为以下所列试块材料对应的适当的编号:

1 = 1018

2 = 4340

4 = 7075-T6

5 = 304不锈钢

8 = 6-4



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