电脑型透反射热台偏光显微镜XPR-700 XPR-700

一、仪器的用途

　　透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业*常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。 
　　专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算；观察双折射体的光学效应；微生物形貌观察；组织细胞核、壁形态观察；地质材料偏光形态观察；无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。 
二、技术参数

1．目镜

2．物镜

3.光学放大倍数：50X--600X
4.目镜管：转轴式（倾斜30°），内置检偏器,可自由切换正常观察与偏光观察,推入式勃氏镜,中心可调,λ补偿器,λ/4 补偿器,石英锲补偿器
5.透射照明：6V 20W卤素灯,亮度可调,起偏器可360°旋转有0、90、180、270四个读数
　反射照明: 6V 20W卤素灯,亮度可调, 起偏器可旋转；
6.载物台：机械式附加旋转台面 尺寸 φ100mm， 360°旋转
7.调焦机构：粗微动同轴，齿轮转动 , 带限位及调节松紧机构
8.聚光镜：阿贝聚光镜NA1.25，升降上下可调
9.防霉系统:特有防霉
10.成像系统:配置日本JVC高像素CCD,像素达47万；
11.高精熔点测定仪(具体参数见熔点仪资料)
①精密温度控制仪显示窗口由上下二排四组数子及文字（英文）组成。
　上排：温度测量显示组，下排 ：温度设定显示组. 数显方式:整数显示
②恒温范围：室温---400℃, 恒温精度：全范围≤±0.5℅, 恒温系统波动度：±1℃
　如作熔点测量,则只能间接测量;必须通过标准物质熔点校正得到修正值后,再进行测量.
　此仪器只能测量相对温度,不能测量**温度; 仪器显示温度不等于物质的实际温度.
③温度速度：可设置升温速度范围(可调)：0.5---36秒/℃
　*大升温速度：室温---100℃≤40秒
　*慢升温速度达36秒/℃,达400℃时间：240分钟
　即刻恒温响应时间：≤0.01秒
④热台尺寸: 厚度:12mm; 大小:Φ110mm; 高温区: Φ30mm, 通光孔: Φ4mm
⑤热台的外体与高温度采用三根陶瓷分开隔热;在中心温度400℃,室温25℃时,热台外
　体温度≤70℃,热台*大载物重量：200克
⑥热台传感器:高精度的双传感器,连接热台与温控仪
三、系统组成

电脑型 (XPR-700E)：1.显微镜 2.适配镜 3.摄像器　4.A/D(图像采集) 5.N型热台
数码型 (XPR-700D)：1.显微镜 2.适配镜 3.数码相机 4.N型热台
四、总放***倍数

XPR-700E型：50--3400倍　　　　XPR-700D型：50--2000倍
五、选购件