TT260测厚仪测头 F1 N1 F400
产品简介
TT260测厚仪测头F1 N1 F400:主要配在北京时代TT260测厚上使用,F400测头主要用于一些小直径产品的涂层测厚,F1用于磁性基体上的本导体层的测厚,N1用于非磁性金属上的非导电层测厚。
产品详细信息
TT260测厚仪测头F1 N1 F400
N1探头是涡流法测量的通用标准探头,测量范围0~1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。
工作原理:电涡流 | 分辨力:0.1um。
测量范围:0~1250 | 铜上镀铬0~40um。
示值误差:
一点校准:±[3%H+1]um;
两点校准:±[(1~3)%H+1]um。
测量条件:
小曲率半径:凸
基体小面积的直径:Ф
小临界厚度:
探头尺寸:Ф15X
F1探头是磁性法测量的通用标准探头,测量范围0~1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260的标配探头。
工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um。
测量范围:0~1250um。
示值误差:
一点校准:±[3%H+1]um;
两点校准:±[(1~3)%H+1]um。
测量条件:
小曲率半径:凸
基体小面积的直径:Ф
小临界厚度:
探头尺寸:Ф12X
涂层测厚仪F400探头
- 工作原理:磁感应 | 分辨力:0.1um
- 测量范围:0-400um
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示值误差:
- 一点校准:±[3%H+1]um
- 两点校准:±[(1~3)%H+0.7]um
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测量条件:
- 小曲率半径:凸1mm
- 基体小面积的直径:Ф3mm
- 小临界厚度:0.2mm
- 探头尺寸:Ф12X55mm