全并行式相控阵超声检测系统 Multi X 系列
产品简介
Multi X 系列全并行式相控阵超声检测系统 Multi X不同于其他相控阵系统,它具有独特的全并行硬件结构。强大的硬件可支持全部通道同时激发和接收,实现高灵敏度、高分辨率检测。 Multi X同时可以驱动线性和矩阵探头,可以进行**检测并且不降低检测速度。主要应用于高灵敏度材料检测。
产品详细信息
Multi X 系列全并行式相控阵超声检测系统 | |
硬件特点:
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技术参数: ★ 电子聚焦,电子扫查,扇形扫查 ★ 检测模式:脉冲回波或者发射接收模式,动态深度聚 焦(DDF),动态激发孔径 ★ *大脉冲重复频率:30KHz,根据聚焦法则可改变 ★ 系统带宽:0.8到20 MHz ★ 电压可调节:30~200V,步进1V ★ 负方波脉冲,脉冲宽度可调整:30ns~1.2us,步进 2.5ns,下降时间<10ns(200V,50ns) ★ *大采样率:100MHz(从6.6到100MHz可选择) ,10bit ★ *大数据流量> 30 MB/s ★ 聚焦法则存储在32MB快速硬件内存中,在扫查过程 中可以快速应用聚焦法则 ★ 每个通道的增益范围:0~80dB |
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