重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试 LTS-80

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产品型号：LTS-80

品牌：宏展科技（重庆）有限公司

公司名称：北京宏展仪器有限公司

所在地：重庆

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产品简介

重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试，混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱 *新理念的混合型试验设备。 重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试，具有湿度循环试验的功能。

产品详细信息

重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试

混合型湿度循环试验冷热冲击试验箱

Thermal Humidity Shock Test Chambers

*新理念的混合型试验设备。
具有湿度循环试验的功能。

重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试

型号			TSH-100-W	TSH-200-W
方　　式			2温区或3温区风门切换方式
性能	测试区域	高温曝露温度范围	冷热循环试验+70℃～ +150℃ 结露循环试验-10℃～ +100℃
		低温曝露温度范围	-70℃～ +10℃
		温度波动	± 1℃
		湿度波动	± 5%RH
	高温恒温器	预热温度上限	+150℃
		湿度范围	40～95%RH(结露循环试验时)
		温度上升时间	-10℃→+100℃ 30分以内
		温度下降时间	+20℃→-10℃ 60分以内
	低温恒温器	预冷温度下限	-75℃
		温度上升时间	-75℃→+10℃ 30分以内
		温度下降时间	常温到-75℃　60分以内
温度恢复性能	冷热循环试验	恢复条件	2温区高温曝露：+75℃ /60分低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
		恢复时间	高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃)	高温恢复：16分以内(常温→+150℃) 低温恢复：16分以内(常温→ -65℃)
	结露循环试验1	恢复条件	2温区高温曝露：+75℃ /60分低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
		恢复时间	高温恢复：20秒以内(5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：3分以内(+25℃90%RH→ +5℃)	高温恢复：20秒以内(+5℃→+25℃90%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃90%RH→ +5℃)
	结露循环试验2	恢复条件	2温区高温曝露：+75℃ /60分低温曝露：-35℃ /30分电源电压：AC200V传感器位置：试料上风口试料：铝合金170kg
		恢复时间	高温恢复：5分以内(-30℃→+25℃ 95%RH) 低温恢复：5分以内(+25℃ 95%RH→ -30℃)	高温恢复：10分以内(常温→+150℃) 低温恢复：10分以内(常温→ -65℃)
试料框承重			5?(试样均匀分布)
测试区尺寸			W650 × H460 ×D370mm	W650 × H460 ×D670mm
本体外尺寸			W1670 × H1900 ×D1570mm	W1670 × H1900 ×D1870mm
重　　量			约1300kg	约1550kg
重庆电子元器件高低温冲击试验箱测试