CMOS激光位移传感器 IL 系列
产品简介
CMOS激光位移传感器IL系列:稳定检测的高峰同类中*高性能;IL-S 尖锐线束传感器探头[全新];超分辨率演算法的配置 [业界**];重复精度 1μm;线性度 ±0.05% F.S. [同类中*高];150万倍的动态范围 [同类中*高]。
产品详细信息
CMOS激光位移传感器IL系列产品特性:
尖锐线束传感器探头
IL 系列的新成员–高性能传感器 检测更严格,检测更稳定
在投光部配置了柱面镜头,从而实现了尖锐线束。另外,对传感器内部的信号处理加以改进,通过配置超分辨率演算法(=Super-resolution Algorithm),实现了业界*高的性能。
*高稳定性得以实现的三种功能
配置超分辨率演算法 [业界**]
通过识别因目标工件表面状态的变化而产生的 CMOS 入光波形的不同,而自动进行*佳的波形处理。类似金属细线以及树脂、橡胶等以往难以检测的工件,也可无调谐地实现稳定检测
配置使宽动态范围得以实现的SCAN功能
为了确实、稳定地检测各种目标物,使射线动力、挡板时间、入光增益(增幅率) 转为可变状态。另外,新研制的数字回路,实现了150万倍(以往的2.5倍)的动态范围。相应检测目标物及表面状态而进行实时控制,从而实现了稳定检测。
尖锐线束
KEYENCE **的光学系统,将线束直径尖锐到极限(25μm),从而实现了以往所不能实现的高度稳定检测。相应亮点形状对光学系统进行了大幅改良,通过实施*佳化,使以往发生较多的检测不均也转为稳定。