Oxford CMI900膜厚测试仪 CMI900

配置规范描述

X射线发射系统在垂直根据类型(由上至下发射光源)X射线光学系统

空冷下降聚焦式X射线管,窗口

标准的目标材料:Rh目标;可选的目标材料:W、钼、银等

功率:50 w

配备**辐射光闸

二次x光滤波器:三位程控交换机,各种材料,不同厚度的选择

准直器单准直器

许多准直器自动交换系统,同时*6个人电脑

更多的准直器大小选项:圆形:0.1,0.15,0.2,0.3,0.5毫米和矩形:0.025 * 0.05、0.05 * 0.05、0.025 * 0.25、0.05 * 0.25、0.1 * 0.4等

样品间开槽样品室:深600毫米*宽度350毫米* 160毫米高

*大样本表大小610毫米* 610毫米

XYZ三轴控制方式多种控制模式选项:XYZ三轴程序控制,XY手动控制和Z轴程序控制,XYZ三轴手动控制

XY控制运动范围标准:152.4 * 177.8毫米,5种可选的

Z轴程控搬到一个高度的43.18毫米

样本观测系统高分辨率彩色CCD观测系统,标准放大30倍;50次,100次选项

激光自动对焦功能

变焦控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置IBM电脑联想,惠普喷墨打印机

分析应用程序软件操作系统:视窗xp或Windows

分析软件包:智能链接FP包

测量厚度范围可衡量的厚度取决于您的应用程序

基本面分析函数使用基本参数法校正,牛津仪器根据您的应用程序将提供必要的标准样品

可检测元素范围:元素周期表上22元素~ 92元素,即Ti ~ U

还可以测量5层涂料,同时分析15种元素、共存元素修正

贵金属检测,如非盟卡拉评价

材料和合金元素分析

多达四个样本同时光谱显示和比较

元素谱定性分析

校正功能系统自动调整和修正功能,自动消除系统漂移

操作语言中国(众多,简化)、英语、日语、韩语、法语、德语、西班牙语、俄语