JX-4400微分干涉显微镜

JX-4400微分干涉显微镜

性能特点

1）JX-4400为*新型FPD检查显微镜，专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查

2）JX-4400机型采用4寸、6寸平台设计，可适用于相应尺寸的晶圆或小尺寸样品的金相检查

3）JX-4400，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美

4）JX-4400机型采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，多层宽带镀膜技术，采用长寿命LED光源

5）多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要，可用于明场、简易偏光、微分干涉观察

主要技术规格：

★ 无限远色差校正光学系统（CSIS）

★ 高眼点大视野平场目镜PL10X/22mm，（可选：PL10X22R、PL15X16）

★ 无限远铰链三通观察筒，30°倾斜

（可选：无限远正像铰链三通观察筒，25°倾斜）

★ 无限远长工作距平场消色差金相物镜（标配）

LMPL 5X/0.15 WD10.8mm LMPL 10X/0.3 WD10mm

LMPL 20X/0.45 WD4mm LMPL 50X/0.55 WD7.8mm

LMPL 100X/0.80 WD2.1mm

（可选：DIC专用物镜、OLYMPUS无限远明场物镜）

★ 1/2CTV摄像接口(0.5X)，C接口，可调焦

（可选：1XCTV摄像接口(1X)，C接口，可调焦）

★ 内定位5孔转换器，带DIC插槽

★ 反射式机架，前置低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程30mm，微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和防止打坏切片、快速聚焦的随机上限位装置

（可选：透反两用机架，内置5W LED透射光照明系统，上下光可独立控制）

★ 反（落）射照明器，柯拉照明系统，带视场光阑与孔径光阑，中心可调；带斜照明装置；90-240V宽电压，单颗3W LED 6500K，亮度可调

★ 4英寸双层机械平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积230×215mm，行程105×105mm；金属载物台板。（另有透反两用平台）

（可选：6英寸三层机械移动平台，平台面积445×240mm，行程158×158mm；带快速移动装置；玻璃载物台板，透反两用平台）

★ 可选配蓝色、绿色、红色干涉滤光片

★ 360度旋转式检偏镜插板、Φ30起偏镜插板

★ 可选配标准微分干涉（DIC）装置、OLYMPUS微分干涉（DIC）装置