X射线荧光光谱仪 EX-3600 PD/SDD型
产品简介
产地:美国
产品详细信息
主要特点:
1) EX-3600 SDD 为您提供了***的灵敏度和选择度。
2) SDD 探测器具有电子噪音低和高计数率的特点,与Si-PIN 探测器相比,SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果。
3) 二次靶模式为快速**的定量分析提供了*大程度的灵敏度,甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。完全自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm 级别。
4) EX-3600 SDD 能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要。
5) 10个位置的自动进样器整体设计允许了*低限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作。
6) 该仪器检测快速,精准,使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低。
7) 多通道采集分辨率为改良过的探测器提供**的峰与峰的比率。
技术参数:
测量能力
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测量范围
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C(6)-Fm(100)
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元素含量分析范围
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ppm - 100% (在指定应用领域中)
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X光管
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X光源
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Rh – 阳级标准
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X-射线电源
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50kV, 50W.
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激发模式
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二次靶激发模式
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稳定性
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室温条件下**到0.1%
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X光探测器
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探测器
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硅锂探测器(SDD),避免使用液态氮
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分辨率
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129 eV ± 5eV at 5.9 keV.
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窗口
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Be.
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特性
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自动成样
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10 个位置
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工作条件
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空气/真空/氦气
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滤光片
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8款可选的软件
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二次靶
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Ge
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电源
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115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz.
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脉冲加工
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多信道分析
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光学
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** WaG ® (广角几何)
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尺寸(L×W×H,cm)
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85×85×105(不含包装),145×95×135(含包装)
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重量
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150Kg(净重),200Kg(总重)
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样品室尺寸
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直径28cm,高5cm
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电脑
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集成 pc.
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软件
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操作软件
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nEXt, 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。
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控制
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样品激发,探测,样品操控,数据采集及处理的自动控制。
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光谱处理
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逃逸峰及背底的自动去除,自动重叠峰解析,图解式统计报告。
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定量分析算法
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考虑共存元素效应的多元素回归法(六种模式)。总计数,净计数拟合及数字滤波器法。
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报告
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用户可自定的数据报表及打印形式
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