表面粗糙度轮廓测量仪 FTS Intra

表面的弯曲、倾斜、粗糙程度与波纹度相互影响，对于需要同时测量尺寸、形状与表 面粗糙度的场合，便携式表面粗糙度轮廓测量仪FTS Intra提供了一次性测量的解决方法。 通过测针在测量表面上的一次测量，来评估这些元素。

表面粗糙度轮廓测量仪
表面的弯曲、倾斜、粗糙程度与波纹度相互影响，对于需要同时测量尺寸、形状与表 面粗糙度的场合，便携式表面粗糙度轮廓测量仪FTS Intra提供了一次性测量的解决方法。 通过测针在测量表面上的一次测量，来评估这些元素。
品质保证 承续了泰勒霍普森产品家族里的**品质，
便携式表面粗糙度轮廓测量仪 FTS Intra 仿佛一位 **的表面测量工程师，在任何你需要的场合， 给您提供好的支持。

简单便携
FTS Intra 既可以通过 PDA 控制处理器携带到 任何工作场合去工作，控制分析单元对驱动单元可 连线控制，也可红外遥控；也可以通过与电脑的对 接，测量的数据直接传输至计算机，由 Ultra 软件 对仪器进行控制及对测量数据的分析。作为标准计 量室内的检测设备。
我们可以非常容易地把它从计量室带到工作地 点，即使是临时的操作员也可以非常简单地进行操 作，并得到**的测量结果。当然，由于**的设 计，简而易行的操作，您几乎不用妨碍到生产的进 度，就可以非常**地完成这些您所需要的表面形 状与粗糙度的检测。

评定参数
(1) 粗糙度参数： Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rku、Rz、Rz(JIS)、Rpm、R3y、R3z、RS、RSm、Rdela、 Rlamq、RDelq、Rvo、RPc、RHSC、Rmr、Rdc
(2) 波纹度参数： Wa、Wq、Wp、Wv、Wt、Wsk、Wku、Wz、WLamq、WDelq、WDela、WS、WSrm、 Ln、Wc、Wlo、WVo、WPc、WHSC、Wmr、Wdc
(3) 未滤波参数： Pa、Pq、Pv、Pt、Psk、Pp、Pku、Pz(JIS)、PLamq、PDelq、PS、PSm、Pz、Pdela、 Ln、PLo、Pc、PVo、PPc、PHSC、Pmr、Pdc
(4) Rk 参数： Rk、Mrl、Mr2、Rpk、Rvk、A1、A2
(5) 轮廓功能： 半径和角度 Slope(指被测直线与水平测量基准的夹角)
选择合适的产品
简单的粗糙度的测量（如 Ra 等），可以通过泰勒霍普森家族产品系 列
的Surtronic 系列来检测。如果您需要更先进的分析，更高的测量及分 析水平与操作的灵活性，FTS Intra 是**且经济的选择。
如果您需要更**别的产品，请参考我公司表面粗糙度轮廓测量仪 系列之 FTSS 与 PGI 产品。