梅特勒系列天平XP/XS微量天平

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 牌:其它品牌
公司名称:驭璟(上海)科学仪器有限公司
  地:上海杨浦
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产品简介

XS3DU
	采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
	优化天平适应性的参数设置,满足不同称量环境要求
	丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
	GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作

产品详细信息

 梅特勒系列天平XP/XS微量天平

XP2U/XP6

l         采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

l         天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确

l         GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作

l         优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求

l         丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

l         标配CarePacSR,用于天平的日常测试,确保获得准确称量结果

XS3DU

l         采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

l         优化天平适应性的参数设置,满足不同称量环境要求

l         丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

l         GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作

型号

XP2U

XP6

XS3DU

*大称量值(g)

2.1

6.1

0.8/3.1

可读性(mg)

0.0001

0.001

0.001/0.01

重复性(sd)(mg)

0.00025

0.0008

0.0008/0.006

线性误差(mg)

0.0015

0.004

0.01

典型稳定时间(s)

10

7

6

秤盘尺寸(mm)

φ16

φ27

φ27

DU=双量程;sd=标准偏差

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