梅特勒系列天平XP/XS微量天平
产品简介
XS3DU 采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响 优化天平适应性的参数设置,满足不同称量环境要求 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量 GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作
产品详细信息
梅特勒系列天平XP/XS微量天平
XP2U/XP6
l 采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
l 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确
l GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作
l 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
l 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
l 标配CarePacSR,用于天平的日常测试,确保获得准确称量结果
XS3DU
l 采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
l 优化天平适应性的参数设置,满足不同称量环境要求
l 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
l GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作
型号 |
XP2U |
XP6 |
XS3DU |
*大称量值(g) |
2.1 |
6.1 |
0.8/3.1 |
可读性(mg) |
0.0001 |
0.001 |
0.001/0.01 |
重复性(sd)(mg) |
0.00025 |
0.0008 |
0.0008/0.006 |
线性误差(mg) |
0.0015 |
0.004 |
0.01 |
典型稳定时间(s) |
10 |
7 |
6 |
秤盘尺寸(mm) |
φ16 |
φ27 |
φ27 |
DU=双量程;sd=标准偏差