梅特勒系列天平 XS分析天平
产品简介
产品特性 采用高精度高分辨率后指示传感器,满足用户高精度的称量需求 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求 完全可拆卸,清洗的玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁 份股份的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、,密度测量、动态称量 GWPExcellenceTM一体化**功能,确保天平始终正确工作
产品详细信息
型号 |
XS105DU |
XS205DU |
XS64 |
XS104 |
XS204 |
XS205DR |
*大称量值(g) |
41/120 |
81/220 |
61 |
120 |
220 |
81/220 |
可读性(mg) |
0.01/0.1 |
0.01/0.1 |
0.1 |
0.1 |
0.1 |
0.1/1 |
重复性(sd)(mg) |
0.02/0.1 |
0.02/0.1 |
0.1 |
0.1 |
0.1 |
0.1/0.7 |
线性误差(mg) |
0.2 |
0.2 |
0.2 |
0.2 |
0.2 |
0.5 |
典型稳定时间(s) |
4/1.5 |
4/1.5 |
1.5 |
1.5 |
1.5 |
3.5/1.5 |
秤盘尺寸(mm) |
78*73 |
78*73 |
78*73 |
78*73 |
78*73 |
78*73 |