SGWX-4B显微熔点仪 SGWX-4B

SGW®X-4B显微熔点仪——慧龙环科

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SGW®X-4B显微熔点仪测定物质的熔点。用于**、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

SGW®X-4B显微熔点仪技术指标：
熔点测量范围：室温至320℃

测量重复性：±0.1℃（在<200℃时）
       ±0.2℃（在200～300℃时）

光学放大倍数：40-100倍随意调节

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