CHY-115红外线膜厚计涂层测厚仪 CHY-115

CHY-115红外线膜厚计涂层测厚仪

CHY-115红外线膜厚计涂层测厚仪

一般规格：
显示：31 / 2位数字液晶显示，*大1999读值。
电池电压不足显示：当鏁电池电压差低于操作电压差时，
“"显示。
操作环境：0° C至40° C，相对湿度<90％RH。
避免有强度磁场的环境。
储存环境：-20° C至60° C，0至80％R.H. （电池移除后）。
**度测试环境：23° C±5° C，相对湿度<75％RH。
自动关机：15秒。
尺寸：148毫米（高）x105mm（宽）x42mm（厚）

CHY-115红外线膜厚计涂层测厚仪
台湾立绅RiXEN CHY -115红外线膜厚计涂层测厚仪
技术资料：
范围：0至40.0mils（0至1000μm）
解析度：0.1mils/1μm
回应时间：1秒
**度：
±（4位）在0至7.8mils
±（10位）在0至199μm
±（3％4位）在7.9mils至40mils
±（3％+10位）在200微米至1000μm