QNIX4200/4500 涂层测厚仪 QNIX4200/4500

德国 QNIX4200/4500 涂层测厚仪

是利用霍尔原理而设计的探头与主机一体化金属涂层测厚仪 
只需较零，无需校准 
零位稳定 
4200Fe探头，4500Fe/NFe探头
 独特的直流采样技术

QNIX4200/4500 涂层测厚仪技术参数：
磁性基体：Fe探头（4200/4500） 非磁性基体 NFe探头（4500） 
测量范围：Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
精度：0－50μm：≤±1μm， 
50－1000μm：≤±1.5%， 
1000－2000μm：≤±2%， 
1000－3000μm≤±3%
*小接触面：10mm×10mm
*小曲率：凸、凹半径：3mm/25mm
*小基体厚度：Fe：0.2mm，NFe：0.05mm 
温度补偿范围：0-60度 
显示：LCD液晶 
探头：红宝石固定式 
电源：5号电池2节 
尺 寸：110×60×27mm
重 量：110g