碳硅分析仪

碳硅分析仪

测量原理：

    通过微处理器进行温度曲线的采集，通过铁水结晶法来测量计算碳硅成分及铁水品质。

一、主要参数：

    测量范围：1250℃~1350℃

    测量范围：碳当量3.2~4.8±0.1%

    碳含量2.8~4.2±0.05%

    硅含量0.9~3.0±0.1%

二、主要特点：

  通过改进的求值方法进行工作，能自动控制重要的冶金参数，弥补“光谱”难以测准非金属元素（C、Si）之不足，以及常规分析仪器不能满足炉前快速分析的时间要求，满足铸铁生产的质量控制要求；

  应用功能：对白口、灰口铸铁玛铁、球墨、进行C%、Si%、CEL、SC、△T、△TM等测量；

  显示数字高度：50mm；

  温度补偿范围：0-15℃；

  配套样杯类型：K型；

  测量精度：±1℃；

  显示温度单位：华氏温度或摄氏温度可设置；

  测量*大时间：180秒；

  测量状态显示：仪表上“准备”绿灯、“测量”黄灯、“完成”红灯循环显示：

  数据输出：串行信号RS232-TIY电流环信号输出 输出格式：1开始位、7数据位、奇偶校验、2停止位；

  电源要求：98-242VAC，50-60Hz，30VA左右；

  仪表防护标准：IP65标准防护；

  EMC标准：执行EN50081-2及EN50082-2抗干扰性标准。