光切法显微镜 9J

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产品型号： 9J

品牌：上光

公司名称：上海上光新光学科技有限公司

所在地：上海浦东

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产品简介

在不破坏表面的状况下来进行测量物体表面的微观不平度，对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。表面光洁度▽3～▽9（表面粗糙度12.5 ～0.2 ）
1．不平宽度测量范围：0.8-80μm
2．测量范围：0.7μm-2.5mm用测微目镜
3．测量范围：0.01-13mm用坐标工作台
可选高清数码摄影与图像处理测量装置

产品详细信息

用途

•	光切法显微镜9J是以光切法测量零件加工表面的微观不平度，能判别国家标准(GB1031-68)所规定的▽3-▽9级表面光洁度(表面粗糙度12.5 –0.2 )。
•	对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。
•	光切法显微镜的特点是在不破坏表面的状况下进行的，是一种间接测量方法，即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。
•	光切法显微镜适用于企业计量室，精密零件制造企业，科学研究等单位，也是各大专院校典型教学仪器之一。

规格

系统		技术参数
不平宽度测量范围	用测微目镜	0.7µm-2.5mm
	用坐标工作台	0.01-13mm
不平度测量范围		0.8-80µm
可调变压器		输入电压AC220V/50Hz,输出电压4-6V
仪器质量		外形尺寸180х290х470mm³,重量13kg

参数表

不平度平均高度值µm	表面光洁度级别	所需物镜组件				总放大倍数
不平度平均高度值µm	表面光洁度级别	放大倍数	数值孔径	工作距离	视场直径	总放大倍数
﹥0.8-1.6	▽▽▽9	60×	N.A.0.55	0.04mm	Φ0.3mm	510×
﹥1.6-6.3	▽▽▽8-7	30×	N.A.0.40	0.2mm	Φ0.6mm	260×
﹥6.3-20	▽▽6-5	14×	N.A.0.20	2.5mm	Φ1.3mm	120×
﹥20-80	▽4-3	7×	N.A.0.12	9.5mm	Φ2.5mm	60×

仪器成套性

⑴ 仪器主体	⑵ 测微目镜	⑶ 坐标工作台	⑷ V型块
⑸ 标准刻尺	⑹ 物镜7×	⑺ 物镜14×	⑻ 物镜30×
⑼ 物镜60×	⑽ 可调变压器	⑾ 2.1W/6V灯泡	⑿ 随机文件

选配件

① 摄像装置（9JV）	适配镜,进口彩色CCD摄像机,图像捕捉卡
② 数码摄像装置（9JU）	适配镜,彩色数码摄像机,测量软件(合成)
③ 数码摄影装置（9JD）	适配镜,数码照相机,图像捕捉卡
④ 图像测量系统（9JM）	适配镜,进口彩色CCD摄像机,图像捕捉卡,图像测量软件