X射线荧光光谱仪 GT-XRF-W7
产品简介
(1)X射线荧光光谱仪应对环保指令:RoHS&WEEE指令、RoHS2.0指令、无卤指令、EN71指令、CP65、HR.4040、ASTM-F963、GSZEK01.4-08、2012/48/EU、欧盟94-62-EC(指令)、GB/T17592等国内外环保指令。 (2)X射线荧光光谱仪目前电子产品所管控的有害重金属有:RoHS中的Pb、Cd、Hg、Cr元素;玩具、纺织和鞋材包装行业中的重金属有:As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Hg、Mn、Ni、Pb、Sb、Se、Sn、Sr、Zn元素;
产品详细信息
X射线荧光光谱仪可以拓展的应用有:
(1)应对环保指令:RoHS&WEEE指令、RoHS2.0指令、无卤指令、EN71指令、CP65、HR.4040、ASTM-F963、GSZEK01.4-08、2012/48/EU、欧盟94-62-EC(指令)、GB/T17592等国内外环保指令。
(2)目前电子产品所管控的有害重金属有:RoHS中的Pb、Cd、Hg、Cr元素;玩具、纺织和鞋材包装行业中的重金属有:As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Hg、Mn、Ni、Pb、Sb、Se、Sn、Sr、Zn元素;
(3)无卤指令中的Cl和Br元素;
(4)常见有机化合物:邻苯二甲酸酯(PAEs,包含了DEHP,DBP,BBP,DIBP,)、多环芳烴(PAHs)、偶氮染料(AZO)、甲醛、双酚A(BPA)、富马酸二甲酯(DMFU)、锻炼氯化石蜡(SCCPs)、二甲基甲酰胺(DMFA)、六溴环十二烷(HBCD)、溴类物质(PBBs、PBDEs)、四氯苯酚、五氯苯酚、氨基酸等物质。
一、 主机仪器主要参数
A:GT-XRF-W7(X射线荧光光谱仪)的参数
1. |
仪器测试范围: |
从硫S-铀U之间的元素 |
2. |
样品种类: |
固体、液体、粉末 |
3. |
测试精度 |
0.2%(主元素含量大于96%) |
4. |
测试时间: |
120s-200s(软件自动调整) |
5. |
摄像定位系统: |
800万真像素高清定位系统; |
6. |
X射线光管: |
窗口材料:金属铍 使用寿命:大于20000小时 |
7. |
探测器: |
型号:X55 生产厂家:美国Amptek 电制冷SI-PIN 探测器 分辨率135ev±5 1mil铍窗厚度 |
8. |
高压电源: |
0-50kev,0-2mA zui大50W |
9. |
高压保护措施 |
过压自保护,自恢复 |
10. |
集成工业计算机: (电脑一体机) |
嵌入式方案工控电脑 操作系统:Windows7 (无需外接电脑) |
11. |
工作环境温度: |
温度 :15-30℃ ;湿度:≤75% (不结露) |
12. |
输入电源: |
AC 220V±15%,50Hz |
13. |
仪器尺寸: |
450(L)×410(W)×400(H) |
14. |
测试样品腔尺寸: |
350(L)×300(W)×100(H) |
15. |
辐射防护标准: |
远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准 |