DUALSCOPE® FMP40涂镀层测厚仪 FMP40
产品简介
DUALSCOPE® FMP40涂镀层测厚仪由于采用了磁感应和电涡流两种方法,且具有自动识别基材的功能,这台通用型仪器可以测量铁/钢上、非磁性金属基材上和非导电基材上众多涂镀层的厚度。
产品详细信息
DUALSCOPE® FMP40涂镀层测厚仪采用了磁感应和电涡流两种方法。
磁感应方法:
通过探头的激励电流产生一个低频磁场区域,该磁场的强度取决于涂镀层厚度并经磁性基材放大。测量线圈捕获这个放大信号,然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将信号转换为涂镀层厚度。
应用:锌、铬、铜等电镀层或涂覆或喷溅上去的非磁性镀层或油漆、塑料等涂层在钢和铁上。
电涡流方法:
通过探头的激励电流产生一个高频初级磁场区域,该磁场在基材内产生感生电涡流,次级磁场区域削弱初级磁场区域,削弱影响相当于探头和基材之间的距离即涂镀层的厚度,然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将削弱影响转换为涂镀层厚度值显示出来。
应用:油漆或塑料涂层在非磁性金属例如:铝或不锈钢上铝上氧化膜导电镀层在非导电基材上,例如:线路板上铜箔的厚度。
特性:
(比FMP10-FMP20多的特性)
• 自动识别基材(FMP40)
• 可储存20,000个测量数据
• 可储存100个应用程式
• 可储存4,000个数据组
• 数据组带日期和时间标志
• 数据组和所有数据统计值
• 测量数据直方图显示
• 可以输入过程公差极限并计算相应的工艺能力指数
Cp和Cpk
• 当超出公差极限时,有声音和视觉警告信号
• 连续测量模式下,测量数据可在上下限范围内模拟
显示
• 外部按键触发测量模式,可用于测量小尺寸的圆管
内壁
• 可在未知涂层上校准(仅适用于磁感应方法)
• 可使用矩阵测量模式进行大量测量
• 取平均值:仅储存几个测量数据的平均值
• 区域测量:
只显示读数,探头提起后才储存并取平均值
• 探头放在工件上可连续测量
• 离奇值控制可自动排除错误的测量值
• 可修改已储存的测量值
• 应用程式连接模式:可共享校准信息
• 通过MP-Name软件可以为应用程式命名
• USB接口可连接打印机
• 使用电池或外接电源
DUALSCOPE® FMP40涂镀层测厚仪 资料下载
磁感应方法:
通过探头的激励电流产生一个低频磁场区域,该磁场的强度取决于涂镀层厚度并经磁性基材放大。测量线圈捕获这个放大信号,然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将信号转换为涂镀层厚度。
应用:锌、铬、铜等电镀层或涂覆或喷溅上去的非磁性镀层或油漆、塑料等涂层在钢和铁上。
电涡流方法:
通过探头的激励电流产生一个高频初级磁场区域,该磁场在基材内产生感生电涡流,次级磁场区域削弱初级磁场区域,削弱影响相当于探头和基材之间的距离即涂镀层的厚度,然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将削弱影响转换为涂镀层厚度值显示出来。
应用:油漆或塑料涂层在非磁性金属例如:铝或不锈钢上铝上氧化膜导电镀层在非导电基材上,例如:线路板上铜箔的厚度。
特性:
(比FMP10-FMP20多的特性)
• 自动识别基材(FMP40)
• 可储存20,000个测量数据
• 可储存100个应用程式
• 可储存4,000个数据组
• 数据组带日期和时间标志
• 数据组和所有数据统计值
• 测量数据直方图显示
• 可以输入过程公差极限并计算相应的工艺能力指数
Cp和Cpk
• 当超出公差极限时,有声音和视觉警告信号
• 连续测量模式下,测量数据可在上下限范围内模拟
显示
• 外部按键触发测量模式,可用于测量小尺寸的圆管
内壁
• 可在未知涂层上校准(仅适用于磁感应方法)
• 可使用矩阵测量模式进行大量测量
• 取平均值:仅储存几个测量数据的平均值
• 区域测量:
只显示读数,探头提起后才储存并取平均值
• 探头放在工件上可连续测量
• 离奇值控制可自动排除错误的测量值
• 可修改已储存的测量值
• 应用程式连接模式:可共享校准信息
• 通过MP-Name软件可以为应用程式命名
• USB接口可连接打印机
• 使用电池或外接电源
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