Ux-700镀层测厚仪 Ux-700

Ux-700镀层测厚仪

Ux-700镀层测厚仪本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多*佳条件的选择，保证测试结果的准确性。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。
Ux-700镀层测厚仪采用了华唯*新**技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。
Ux-700镀层测厚仪产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：149eV
高压范围：5-50Kv，50W
X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：专用镀层滤光片
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø0.5mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：70*20mm
整机重量：38kg

镀层测厚方法：
1.磁性涂层测厚法
使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
2.涡流层层测厚法
可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
3.X射线荧光法
所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
常用单位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil） 1um=39.4迈， 1um=0.04mil