日本日置 IM3523 LCR测试仪 IM3523
产品简介
日本日置 IM3523 LCR测试仪应用于生产线和自动化测试领域的理想选择,基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA),日本日置 IM3523 LCR测试仪不标配测量探头和测试夹具。
产品详细信息
日本日置 IM3523 LCR测试仪
日本日置 IM3523 LCR测试仪应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
基本精度±0.05%,测量范围广泛(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
内置比较器和BIN功能
2毫秒的快速测试时间
日本日置 IM3523 LCR测试仪不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。
日本日置 IM3523 LCR测试仪
测量模式 |
LCR,连续测试 |
测量参数 |
Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
测量量程 |
100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
可显示量程 |
Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 |
Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
测量频率 |
40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) |
测量信号电平 |
正常模式 |
输出阻抗 |
正常模式:100Ω |
显示 |
单色LCD |
测量时间 |
2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 |
比较器,分类测量(BIN功能),节点负载/补偿,记忆功能 |
接口 |
EXT I/O(处理器),USB通信(高速) |
电源 |
100~240V AC,50/60Hz,*大50VA |
尺寸及重量 |
260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 |
电源线×1,操作手册×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |