TT230氧化膜测厚仪 TT230
产品简介
TT230氧化膜测厚仪采用涡流测厚仪，TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
产品详细信息
TT230氧化膜测厚仪已经更新换代：TIME2501替代
TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
TT230氧化膜测厚仪符合以下标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT230氧化膜测厚仪特点
TT230氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
TT230氧化膜测厚仪技术参数
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测头类型 |
N |
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测量原理 |
电涡流 |
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测量范围 |
0-1250um/0-40um(铜上镀铬) |
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低限分辨力 |
1µm(10um以下为0.1um) |
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探头连接方式 |
一体化 |
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示值误差 |
一点校准(um) |
±[3%H+1.5] |
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两点校准(um) |
±[（1%~3%）H+1.5] |
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测量条件 |
*小曲率半径(mm) |
凸3 凹10 |
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基体*小面积的直径(mm) |
ф5 |
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*小临界厚度(mm) |
0.3 |
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温湿度 |
0~40℃ |
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统计功能 |
平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、 |
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工作方式 |
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) |
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测量方式 |
连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） |
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上下限设置 |
无 |
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存储能力 |
15 个测量值 |
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打印/连接计算机 |
可选配打印机/不能连接电脑 |
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关机方式 |
自动 |
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电源 |
二节3.6V镍镉电池 |
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外形尺寸 |
150×55.5×23mm |
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重量 |
150g |
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TT230氧化膜测厚仪配置
主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铝基体
充电器
其他产品
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