杂散光的测定
将参比液注入配对石英石吸收池，分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。将减光片插入试样光路的滤光片槽内，其读数即为减光片的衰减值K.然后将减光片插入参比光路的滤光片座内，将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液，插入试样试样池座中，在相应的波段内扫描、打印；在记录纸的作标上量取测定波长处的透光度，乘以衰减值K，即得各测定波长处的杂散光值，结果见表1。
4.讨论
（1）利用1％减光片和记录纸得百分格坐标作双重扩展，仪器的透光度*小标度为10－7足以测试10－7水平的杂散光，此时要求仪器相应的测光量程应不小于－2A～4A，透光率*小可设定范围为0～0.1％T，这对于某种仪器不完全适用，如岛津UV－365双光束自动记录式分光光度计，因参比光路插入1％减光片会造成光路－电路的负失衡（相当吸光度－2A），表现为负高压超载而无法工作。康强810型等，透光率*小设定范围为0～10％T档。这类仪器可利用仪器的宽范围的AbS档来测定，再换算成％T值。当杂散光水平为10－5～10－4时可考虑改用10％减光片或不用减光片。
（2）测定高性能单光束紫外分光光度计的杂散光时，应先插入减光片和参比液池，在测定波段扫描基线，然后去掉减光片，参比液换成相应的截止滤光液，参照上述方法进行测定。
（3）同一减光片在不同仪器上的衰减值不会一样，但在同一仪器上，在参比光路和试样光路上的衰减值应相同且重复。
（4）分光光度计光源能量处于*小值的波长处，杂散光*严重，国家标准和一些进口仪器，杂散光指标采用220nm和340nm（或380nm）为测定波长，这些波长也正是氘灯或卤钨灯能量的低谷。采用适当的方法检测杂散光，有助于了解仪器的光学性能和评价杂散光对测试准确度可能带来的影响。
将参比液注入配对石英石吸收池，分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。将减光片插入试样光路的滤光片槽内，其读数即为减光片的衰减值K.然后将减光片插入参比光路的滤光片座内，将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液，插入试样试样池座中，在相应的波段内扫描、打印；在记录纸的作标上量取测定波长处的透光度，乘以衰减值K，即得各测定波长处的杂散光值，结果见表1。
仪 器 型 号 |
200nm／K Cl溶液 |
220nm／Na I溶液 |
340nm／NaNO溶液 |
日立U-3200 |
1.1% |
0.0001% |
0.0008% |
岛津UV-365 |
0.60% |
0.00% |
0.00% |
岛津UV-250 |
1.0% |
0.042% |
0.047% |
贝克曼DU-70 |
4.4% |
0.4% |
0.0% |
康 强 8 1 0 |
0.95% |
0.04% |
0.08% |
4.讨论
（1）利用1％减光片和记录纸得百分格坐标作双重扩展，仪器的透光度*小标度为10－7足以测试10－7水平的杂散光，此时要求仪器相应的测光量程应不小于－2A～4A，透光率*小可设定范围为0～0.1％T，这对于某种仪器不完全适用，如岛津UV－365双光束自动记录式分光光度计，因参比光路插入1％减光片会造成光路－电路的负失衡（相当吸光度－2A），表现为负高压超载而无法工作。康强810型等，透光率*小设定范围为0～10％T档。这类仪器可利用仪器的宽范围的AbS档来测定，再换算成％T值。当杂散光水平为10－5～10－4时可考虑改用10％减光片或不用减光片。
（2）测定高性能单光束紫外分光光度计的杂散光时，应先插入减光片和参比液池，在测定波段扫描基线，然后去掉减光片，参比液换成相应的截止滤光液，参照上述方法进行测定。
（3）同一减光片在不同仪器上的衰减值不会一样，但在同一仪器上，在参比光路和试样光路上的衰减值应相同且重复。
（4）分光光度计光源能量处于*小值的波长处，杂散光*严重，国家标准和一些进口仪器，杂散光指标采用220nm和340nm（或380nm）为测定波长，这些波长也正是氘灯或卤钨灯能量的低谷。采用适当的方法检测杂散光，有助于了解仪器的光学性能和评价杂散光对测试准确度可能带来的影响。
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