X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
X荧光光谱仪的优劣势分析如下：
X荧光光谱仪优势:
分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。
非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
分析精密度高。
制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
X荧光光谱仪劣势：
难于作**分析，故定量分析需要标样。
对轻元素检测的灵敏度要低一些。c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
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