GJB128A-97 半导体分立器试验方法
1000系列 环境试验 方法 

1001 低气压
1、目的
本试验是为了在模拟 低气压条件 下检验器伯的适应性，该条件是模拟飞行器在高空飞行时，其密封部分所到到的。
2、程序
器件应按照GJB 360A中的方法105规定进行试验，另外，还应采用下列细则：
a、在试验前20 min和试验过程中，试验温度为25±5℃；
b、应加规定的电压，并从正常大气压降到规定的*低气压和再回到正常大气压的的定个返回内进行监测，检测出失效的器件。
3、失效判据
如果器件出现飞弧，有害的电晕或其它缺陷，或者有妨碍器件工作的劣化现象，则认为器件失效。

1021 耐湿试验 1、目的
本试验的目的是用加速方式评定元器件及其所用材料在高湿和火热（典型的热带环境）条件下搞衰变作用的能力，大多数火热条件下退化现象是直接地由于有缺陷的绝缘材料吸附水蒸汽和火热（典型的热带环境）条件下抗衷变作用的能力。大多数火热条件下退化现象是直接或间接地由于有缺陷的绝缘材料吸附后水蒸汽和水膜，以及由于金属和绝缘材料表面变湿而引起的。这种现象会产生多种类型的衰变，其中包括金属的腐蚀、材料成分的变化及电特性变坏。本试验与稳态潮湿试验不同，它采用温度打抱不平来提高试验效果，其目的在于提供一个凝露和干燥的过程，使腐蚀过程加速，并使得进入密封外壳内的水汽产生“呼吸”作用。在高温下，潮气的影响将更加明显，也能增强试验效果。试验包括低温子循环，它的作用是加速显在其他情况下不易看清的衰变迹象，因为凝结水汽的应力会使裂缝加宽。这样，通过测量电特性（包括击穿电压和绝缘电阻）或进行密封试验就可以揭示该衰变现象。规定在绝缘体上施加极性电压，从而研究电解的可能性，因为电解会助长可能发生的介质击穿。如果需要的话，为了确定截流元件特别是细导线和接点的抗电化学腐蚀的能力，本试验还可以对某些元件施加一定的电负荷。本试验获得的结果是可重复产生的，并已通过现场失效的市井得到证实，已证明试验能可靠地指出哪些元件不能在热带条件下使用。

方法1031 高温寿命 （非工作）
1、目的
本试验的目的是为了确定符伯在承受规定的条件下是否符合规定的失效率。
1、程度
按照GJB 33A规定的寿命试验要求，使钻件在规定的环境条件下（通常是*高温度）贮存规定的时间。按GJB 33A规定的寿命试验时间把样品从规定的环境条件下移开，并使其达到试验的标准大气条件。把样品从规定的环境条件下移开后，96H内完成鉴定及质量一高产田性试验所规定的搞点测试、如果在规定的时间内不能完成测量，那么，在完成试验后的测量前，器件至少应追加24H相同条件的试验。
2.1外观检查
试组后在无放大的条件下检查，标志应清晰，使涂层应无明显的剥落，凹坑、锈蚀，这些影响器件的机械和电气应用。

相关设备： 恒温恒湿试验箱 / 紫外线老化试验箱 / 冷热冲击试验箱 / 高低温试验箱 / 氙灯老化试验箱 / 箱式淋雨试验装置 / 砂尘试验箱 / 高低温低气压试验箱 / 快速升降温试验箱 / 盐水喷雾试验箱 / 精密烘箱 / 真空烤箱 / 隧道式自动式焗炉 / UV光固化机 / 步入式恒温恒湿试验室 / 大型高低温试验室 / 大型淋雨试验室 /空调焓差实验室/大型盐雾腐蚀试验室/温湿度振动三综合试验室/ 氙灯耐候试验箱 /拉力机/模拟运输振动台/其它自动化检测平台

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