膜厚测量仪又称金属涂镀层厚度测量仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上*普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。

　　膜厚测量仪用途：

　　检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费。

　　膜厚测量仪特点：

　　★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。

　　★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量

　　★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成的损坏。

　　★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。

　　★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语

　　★ 搭载样品尺寸的兼容性，可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等

　　★ 卤素灯照明

　　★ 即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告

　　★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正

　　★ 搭载了电动X-Y移动平台

　　膜厚测量仪技术参数：

　　可测元素：Ti～U

　　X射线管：管电压45KV，管电流1mA

　　检测器：比例计数管

　　样品观察：CCD摄像机

　　对焦方式：激光自动对焦

　　测定软件：薄膜FP法、检量线法

　　准直器：2个(0.1mm，0.025*0.3mm)

　　**机能：测量室门自锁功能

　　Z轴防冲撞功能

　　仪器自诊断功能