镀层测厚仪:
膜厚仪(涂层测厚仪，镀层测厚仪)是一种小型便携式仪器，用于测量有色金属基体上的非导电涂层的厚度，如铜、铝、锌等基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器采用涡电流测量原理，符合国际标准ISO2360和国家标准GB4957。
该仪器设计时曾参照国外的同类仪器，与国外仪器性能相同，功能相似。
采用红宝石耐磨触点的恒压导套式探头，可在各种坚硬、粗糙表面上得到稳定的输出。
该仪器具备以下几种重要功能：
1、校准数据关机保留功能：即开机时不必重新校准，关机后，校准数据仍可保留。
2、数据统计功能：可输出5种统计参数。
3、节电功能：停止测试3分种，仪器自动关机。
4、电池欠压指示功能：电池电压过低自动关机。
5、蜂鸣音提示功能：蜂鸣音提示有效测量、故障及误操作
镀层测厚仪技术参数
1.测量范围：0－200μm;
2.测量精度：±3%±0.5μmF·S
3.分辨率：1μm
4.使用温度：0－40℃
5.显示器：三位半LCD显示器
6.电源：9V层迭电池一节，型号6F22
7.功率：50mW
8.外型尺寸：80×150×35mm
9.重量：40g
镀层测厚仪校准操作
该仪器不必每次使用前都做校准。但是，当基体材料改变时及试样形状改变时，都要进行一次校准。校准时要使用没有涂层的基试块和已知**厚度值的标准片，基体和标准生要求表面清洁、平整。
1、校准有以下三种方法：
（1）探头远离基体（>15mm），按下CAL键，显示器出现提示“ZERO”、显示值“0.0”。
（2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平均值。
（3）连续按下两次CAL键，仪器接受新的零点，退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。
2、多点校准（用基体和标准片校准）
（1）将探头远离基体，按CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
（2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平昀值。
（3）按CAL键，仪器自动校准零点。提示“STD1”，显示“0.0”。
（4）取**标准片，放在基体上，测量5－10次，显示该标准片测量结果的平均值。
（5）按△或▽键，使显示值与标准片厚度值相等。
（6）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”显示“0.0”
（7）重复（4）－（6）的操作，校准其它两个标准片。尔后，仪器退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。
3、特性校准（用已知厚度的参考试样和标准片校准）
（1）探头远离参考试样，按下CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
（2）按下CAL键，提示“STD1”，显示“0.0”。
（3）在参考试样上测量5－10次，显示该试测量结果的平均值。
（4）按△或▽键，使显示值与参考试样厚度值相同。
（5）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”，显示“0.0”。
（6）取**标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示测量结果一平均值。
（7）按△或▽键，使显示值等于参考试样厚度值与标准片厚度值之和。
（8）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD3”显示“0.0”。
（9）取**标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示出测量结果的平均值。
（10）按△或▽健，使显示值等于参考试样厚度值与**标准片厚值之和。
（11）按CAL键，校准结束，显示“0.0”仪器进入测量状态。
注：
1.该仪器不必每次使用都进行校准。只是当发现仪器测量误差比校大时，便可进行校准，根据情况可分别使用上述的三种方法校准仪器。
2.校准片的选择应使待测件的膜厚值被标准片的厚度值所包含。各步校准所用标准片厚度必须按从小到大顺序选取。
3.在校准过程中，可用DEL键删除该次测量值。也可使用DEL键，依次删除前几次的测量量，直至回到本步骤的初始状态。
4.在多点校准和特性校准时，连续按下两次CAL键，可提前结束校准，回到测量状态。
5.为尽量提高测量精度，在下述情况下应采用外形和材质与待测件相同的基体材料重新校准仪器。
（1）试样表面粗糙。
（2）试样曲率半径<200mm。
（3）试样被测面直径200mm。
（4）基本材料厚度<1mm。
（5）基体材料的合金成分发生了变化。