贴片晶振的测试方法（晶振测试仪）
产品简介：
一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。
具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。
主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定
　　
二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：30mv
PPm测量：3KHz — 100MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
（可选 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
时基频率：OCXO--10MC

三、特点：
微机控制，可编程器件开发， 模块化设计
100MHz同步等精度测量方式
SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计
9位LED显示
PPm提示功能

四、可选配：
晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

 
晶体振荡器测试座： 有贴片和插件2种可选，贴片测试座需要安装在插件测试座上方能使用。