YB6600大功率晶体管图示仪推荐-仪表展览网

YB6600半导体分立器件参数图示测试系统简介

公司简介 www.xaybdz.com

西安谊邦电子科技有限公司为国家高新技术产业园、陕西省政府重点支持的高新技术企业。主要涉及大功率半导体分立器件测试、功率图示系统、**集成电路测试的研发、生产与销售等业务。谊邦主要技术人员来自航天、航空及半导体技术研究所，丰富的专业技术知识和多年的测试产品研发经验，多项自主知识产权，可靠的生产控制工艺及不断**的技术研发，为公司持续发展提供了有利保障。

谊邦YB6000系列半导体分立器件测试系统功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到国际**水平。半导体管图示系统，更是突破图示仪的局限，基于PC机显示曲线图形，同时具有静态参数测试系统的功能。产品被广泛应用于**、汽车、飞机、船舶制造、能源等领域。

进过多年努力，雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和独特严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为**。公司大胆**，现已获得多项发明**。同时，为给客户提供规范的服务，公司建立了完善的产品与服务质量管理体系，先后通过ISO9001，2000国际质量体系认证。

面向未来，谊邦人将充分利用自己已形成的优势，与合作伙伴共同成长，立志将谊邦打造成**半导体测试行业的***。

1．系统配置简介

1.1 系统概述

YB6600是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的**半导体测试设备。

本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

1.2 YB6600测试仪指标

1.测试电压：0--2000V
     2.测试电流：0--50A
     3.电压分辨率： 1mV
     4.电流分辨率： 0.1nA
     5.测试精度： 0.2%+2LSB

1.3 YB6600测试系统是一套高速多用途半导体分立器件智能测试系统，它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，可真实准确测试下列各种大、中、小功率的半导体分立器件。
1．双向可控硅（TRIAC）

2．MOS场效应管（Power MOSFET）

3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）

4．结型场效应管（J-FET ）

5．晶体管（Transistor）

6．达林顿阵列(Darliknton)

7．稳压（齐纳）二极管（Zener）

8．二极管(Diode)

9．可控硅整流器（SCR ）

10．三端稳压器（REGULATOR ）

11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）

12．双向触发二极管（DIAC)

13．固态过压保护器（SOVP）

14．继电器（RELAY）

1.4系统曲线测试列举
ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS
HFE vs. IC

BVCE（O,S,R,V） vs. IC
BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC
VCE（SAT） vs. IC

VBE（SAT） vs. IC
VBE（ON） vs. IC （use VBE test）

VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF

1.5YB系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上YB6600接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。

2．系统内部简介

2.1 概述

YB6600测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

2.2大功率半导体测试系统特点：
1.图形显示功能

2.局部放大功能
3.程序保护*大电流/电压,以防损坏

4.品种繁多的曲线
5.可编程的数据点对应

6.增加线性或对数
7.可编程延迟时间可减少器件发热

8.保存和重新导入入口程序
9.保存和导入之前捕获图象

10. 曲线数据直接导入到EXCEL
11.曲线程序和数据自动存入EXCEL

12.程序保护*大电流/电压,以防损坏

3．系统规格及技术指标

工作温度：25℃--40℃

贮存温度: -15℃-50℃

工作湿度：45%--80%

贮存湿度：10%--90%

工作电压：200v--240v

电源频率：47HZ--63HZ

接地要求：供电电源应良好接地。

通信接口：RS232 USB

系统功耗：<150w

设备尺寸：450mm×570mm×280mm

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