引起 光电直读光谱仪 误差的原因:
一、系统误差
1、标样和试样中的含量和化学构成不完全一样时,能够惹起基体线和剖析线的强度改动,然后引入误差。
2、标样和试样的物理功能不完全一样时,激起的特征谱线会有差异然后发作系统误差。
3、浇注形态的钢样与经由退火、淬火、回火、热轧、锻压形态的钢样金属组织构造不一样时,测出的数据会有差异。
4、未知元素谱线的堆叠搅扰。如熔炼进程中参加脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。
5、要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规则要求。为了反省系统误差,就需要采用化学剖析方法剖析数次校正后果。
二、偶尔误差与样品成分不平均有关的误差。
1、熔炼进程中带入搀杂物,发作的偏析等形成样品元素散布不均。
2、试样的缺陷、气孔、裂纹、砂眼等。
3、磨样纹路穿插、试样研磨过热、试样磨面放置工夫太长和压上指纹等要素。
4、要削减偶尔误差,就要精心取样,消除试样的不平均性及试样的锻造缺陷,也可以反复剖析来降低剖析误差。
一、系统误差
1、标样和试样中的含量和化学构成不完全一样时,能够惹起基体线和剖析线的强度改动,然后引入误差。
2、标样和试样的物理功能不完全一样时,激起的特征谱线会有差异然后发作系统误差。
3、浇注形态的钢样与经由退火、淬火、回火、热轧、锻压形态的钢样金属组织构造不一样时,测出的数据会有差异。
4、未知元素谱线的堆叠搅扰。如熔炼进程中参加脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。
5、要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规则要求。为了反省系统误差,就需要采用化学剖析方法剖析数次校正后果。
二、偶尔误差与样品成分不平均有关的误差。
1、熔炼进程中带入搀杂物,发作的偏析等形成样品元素散布不均。
2、试样的缺陷、气孔、裂纹、砂眼等。
3、磨样纹路穿插、试样研磨过热、试样磨面放置工夫太长和压上指纹等要素。
4、要削减偶尔误差,就要精心取样,消除试样的不平均性及试样的锻造缺陷,也可以反复剖析来降低剖析误差。