X荧光光谱仪的简单介绍

       x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域，是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术，可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。本文就x荧光光谱仪的工作原理及其应用做简单介绍。

   （一）、X荧光光谱仪简单介绍之---x荧光的基本原理：当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。此后在很短时间内，由于激发态不稳定，外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态，以降低原子能级。当较外层的电子跃迁（符合量子力学理论）至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了x荧光。x荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征x射线，也称荧光x射线或x荧光。  x荧光光谱法就是由x射线光管发生的一次x射线激发样品，试样可以被激发出各种波长的特征x射线荧光，需要把混合的x射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的x射线的强度，以进行定性和定量分析的方法。该方法是一种非破坏性的分析方法，常用的有能量色散型和波长色散型两种类型。

   （二）、X荧光光谱仪简单介绍之---X荧光光谱仪主要用途

　　X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。

　　近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得*多也*广泛。

　　大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

（三）、 X荧光光谱仪简单介绍之---X荧光光谱仪的优缺点

    1、优点

　　1) 分析时间短。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

　　2) 适用范围广。X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

　　3) 非破坏分析，重现性好。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　4) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

　　5) 分析精密度高。

　　6) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

    2、缺点

　　1）难于作**分析，故定量分析需要标样。

　　2）对轻元素的灵敏度要低一些。

　　3）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。