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产品资料

主机板监控测试老化试验箱

主机板监控测试老化试验箱
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:主机板监控测试老化试验箱
  • 产品型号:BIM /ORT
  • 产品展商:其它品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
BIM主机板监控测试老化试验箱 系列专用于少量多样高单价之产品 产品Burn in (预烧)目的是为了早期移除故障另件,而使得可靠性提高,这是*经济的方式来控制产品成本(Productcost)和保证成本(Warranty Cost),否则将会付出更多的维修代价来改善系统的缺点。其它如直流电源供应器,变频器…等产品也可应用于此设备做烧机试验.
产品描述

主机板监控测试老化试验箱BIM /ORT

温度范围 35/45~80

温度稳定度 ±1.0

温度分布均度 ±3.0

升温时间 RT~8045 分钟

内箱尺寸 226W x 162H x40 D cm

外箱尺寸 322W x 223H x 67D cm

内箱材质 不锈钢光 (SUS 304)

外箱材质 钢板烤漆

主机板数量 48

��护装置:

 空焚防止开关1 组,,
 欠相逆相保护开关1 只,
 陶瓷
E-16 保险丝一只,线
 路保险丝及全

 护套式端子

配 件:
 全景式双层强化玻璃门二片,
 六个隔层板,

电 源 AC3ψ3W220V 60Hz/ 3ψ4W380V 50Hz

用 途 主机监控测试

负 载:

主机板CPU(40W/)VGA CARD(40W/)及其它,每片实际发热量120W ×48 =5760W MAX

监控软件:

面板上可选择手,自动测试方式手动测试:由面板上键入预观看之位置即可自动扫描测

:由位置no.148 轮流切换画面显示状况可设定扫描时间可由keypad 控制dc power

supply ATX 电源(power on/off) 可控制开与关.

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