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产品名称:
Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统
产品型号:
C11011-02W
产品展商:
日本Hamamatsu滨松光子学
产品价格:
0.00 元
简单介绍
Optical MicroGauge 膜厚测量系统 C11011 是一种利用激光干涉法的薄膜膜厚测量系统。可在 60 Hz 时进行高速测量，因此也可用于工厂内的线阵测量。与可选的映射系统结合使用，以便进行原型厚度分布测量。它可用于从监控制造过程到质量控制的各种用途。
C11011-02W 可测量 25 μm 至 2.9 mm 以及 10 μm 至 1.2 mm 的玻璃。
Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统的详细介绍
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型号
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C11011-02W
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可测量的薄膜厚度范围（玻璃）
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25 μm 至 2.9 mm*1
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可测量的薄膜厚度范围（硅）
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10 μm 至 1.2 mm*2
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测量重现性（硅）
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100 nm*3
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测量精度（硅）
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< 500 μm: ±0.5 μm, > 500 μm：±0.1%*3
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光源
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红外 LD (1300 nm)
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光斑尺寸
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约 Φ60 μm*4
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工作距离
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155 mm*4
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可测量层数
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*多 1 层
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分析
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峰值检测
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测量时间
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22.2 ms/point*5
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外部控制功能
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RS-232C，PIPE
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接口
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USB 2.0（主机 - 计算机）
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电源
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AC100 V 至 AC240 V，50 Hz/60 Hz
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功耗
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约 50 VA
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滨松光子学株式会社总部位于静冈县滨松市，是一家主要产品包括光电倍增管、光学半导体器件以及图像处理和测量设备的制造商。静冈县内有七个生产基地，其中包括位于滨松市的总工厂。
1948年成立时名为东海电子研究所，1953年成立滨松电视株式会社，开始生产将光转换为电信号并检测电信号的光电管。1983年，公司名称变更为滨松光子学株式会社，并于1998年3月在东京证券交易所**部上市，至今仍在那里。
公司业务大致分为电子管业务、固态业务、系统业务、激光业务四大类。所有这些公司主要开发、制造和销售“发光”、“捕获光”和“测量光”的产品。具体产品包括光电二极管等光学传感器、LED 等光源以及配备 CMOS 和 CCD 的高性能相机。特别是在光传感器领域，光电倍增管自公司成立以来一直是代表产品，并为获得诺贝尔物理学奖做出了贡献，多年来不断发展，目前在全球市场占有率高达约90%。此外，光半导体器件、测量设备等种类繁多的产品被广泛应用于医学、工业、分析、测量、学术界等领域，被世界各地的制造商和研究机构所使用，正在全球扩张，海外市场约占其销售额的70%。
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