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Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统[产品打印页面]

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产品名称: Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统
产品型号: C10323-02E
产品展商: 日本Hamamatsu滨松光子学
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简单介绍
Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10323 是一种显微膜厚测量系统。如果物体具有会产生高水平散射光的不规则表面,则无法在宏观层面上进行测量。对于这些类型的对象,测量小面积会减少散射光,从而可以进行测量。 C10323-02E 的电源电压为 AC200 V 至 AC240 V。

Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统的详细介绍

型号 C10323-02E
可测量的薄膜厚度范围(玻璃) 20 nm 至 50 μm
测量重现性(玻璃) 0.02 nm
测量精度(玻璃) ±0.4%
光源 卤素光源
测量波长 400 nm 至 1100 nm
光斑尺寸 φ8 μm 至 φ80 μm
工作距离 请参阅物镜列表
可测量层数 *多 10 层
分析 FFT 分析、拟合分析、光学常数分析
外部控制功能 RS-232C、PIPE、以太网
接口 USB 2.0
电源 AC200 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 约 250 VA

滨松光子学株式会社总部位于静冈县滨松市,是一家主要产品包括光电倍增管、光学半导体器件以及图像处理和测量设备的制造商。静冈县内有七个生产基地,其中包括位于滨松市的总工厂。
1948年成立时名为东海电子研究所,1953年成立滨松电视株式会社,开始生产将光转换为电信号并检测电信号的光电管。1983年,公司名称变更为滨松光子学株式会社,并于1998年3月在东京证券交易所**部上市,至今仍在那里。
公司业务大致分为电子管业务、固态业务、系统业务、激光业务四大类。所有这些公司主要开发、制造和销售“发光”、“捕获光”和“测量光”的产品。具体产品包括光电二极管等光学传感器、LED 等光源以及配备 CMOS 和 CCD 的高性能相机。特别是在光传感器领域,光电倍增管自公司成立以来一直是代表产品,并为获得诺贝尔物理学奖做出了贡献,多年来不断发展,目前在全球市场占有率高达约90%。此外,光半导体器件、测量设备等种类繁多的产品被广泛应用于医学、工业、分析、测量、学术界等领域,被世界各地的制造商和研究机构所使用,正在全球扩张,海外市场约占其销售额的70%。

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