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产品名称:
Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统
产品型号:
C10178-03E
产品展商:
日本Hamamatsu滨松光子学
产品价格:
0.00 元
简单介绍
Optical NanoGauge 膜厚测量系统 C10178 是一种利用光谱干涉法的非接触式膜厚测量系统。通过光谱干涉法以高灵敏度和高精度快速测量薄膜厚度。我们的产品使用多通道光谱仪 PMA 作为探测器，可以测量量子产率、反射、透射/吸收和各种其他点，同时测量各种滤光片和涂层膜的厚度等。
Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统的详细介绍
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型号
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C10178-03E
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测量型号（特点）
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支持 NIR
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可测量的薄膜厚度范围（玻璃）
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150 nm 至 50 μm*1
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测量重现性（玻璃）
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0.05 nm*2 *3
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测量精度（玻璃）
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±0.4%*3 *4
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光源
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卤素光源
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测量波长
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900 nm 至 1650 nm
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光斑尺寸
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约 φ1 mm*3
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工作距离
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10 mm*3
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可测量层数
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*多 10 层
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分析
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FFT 分析、拟合分析、光学常数分析
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测量时间
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19 ms/point*5
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光纤连接器形状
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φ12 套管形
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外部控制功能
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RS-232C、PIPE、以太网
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电源
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AC200 V 至 AC240 V，50 Hz/60 Hz
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功耗
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约 230 VA
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滨松光子学株式会社总部位于静冈县滨松市，是一家主要产品包括光电倍增管、光学半导体器件以及图像处理和测量设备的制造商。静冈县内有七个生产基地，其中包括位于滨松市的总工厂。
1948年成立时名为东海电子研究所，1953年成立滨松电视株式会社，开始生产将光转换为电信号并检测电信号的光电管。1983年，公司名称变更为滨松光子学株式会社，并于1998年3月在东京证券交易所**部上市，至今仍在那里。
公司业务大致分为电子管业务、固态业务、系统业务、激光业务四大类。所有这些公司主要开发、制造和销售“发光”、“捕获光”和“测量光”的产品。具体产品包括光电二极管等光学传感器、LED 等光源以及配备 CMOS 和 CCD 的高性能相机。特别是在光传感器领域，光电倍增管自公司成立以来一直是代表产品，并为获得诺贝尔物理学奖做出了贡献，多年来不断发展，目前在全球市场占有率高达约90%。此外，光半导体器件、测量设备等种类繁多的产品被广泛应用于医学、工业、分析、测量、学术界等领域，被世界各地的制造商和研究机构所使用，正在全球扩张，海外市场约占其销售额的70%。
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