首页 >>> 产品目录 >>> 涂层测厚仪
仪表展览网 >>> 展馆展区 >>> X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
> X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪

产品资料

X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪

X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪
  • 产品型号:X-Strata980
  • 产品展商:其它品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可**到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者
产品描述
:::: 简 介: :::::::::::::::::::::::::::::::::::::

X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可**到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择*合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。


100瓦X射线管
25mm2PIN 探测器
多准直器配置
扫描分析及元素分布成像功能
灵活运用多种分析模型
清晰显示样品合格/不合格
超大样品舱
同时分析元素含量和镀层厚度

 

如果您对该产品感兴趣的话,可以联系我们

产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
  • 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
  • 免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!